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金相试样磨抛机观测分析铁谱片上的特征微粒-光学仪器 |
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金相试样磨抛机观测分析铁谱片上的特征微粒-光学仪器金相试样磨抛机观测分析 (1)取下金相试样磨抛机罩子,打开铁谱三目双光金相试样磨抛机的电源开关。 (2)调节金相试样磨抛机:将透射光(在金相试样磨抛机底部)调到***大,将反射光调节手柄(在电源变压器上)调到5 V。 (3)用脱脂棉擦拭干净载玻片,将铁谱片放在载玻片上。 (4)将10X物镜对准铁谱片u形槽入口。 (5)通过目镜观察,调节视场,从左向右逐次寻找特征微粒(清晰度调节手柄在金相试样磨抛机立柱上,左右前后位置调节手柄在载物台的下方)。 (6)根据观测的需要,可以将物镜替换为20X,40×,特殊情况下使用100×。 (7)用相机将有保存价值的视场拍摄下来,作为资料保管或检测报告的附件。将相机固定在金相试样磨抛机相机接口上,打开金相试样磨抛机上方摄像目的镜盖,将金相试样磨抛机相机接口固定在金相试样磨抛机上方摄像目孔处,打开相机电源,调节铁谱片在视场中的位置即可在相机上观察到铁谱片上的微粒,需要保留时直接按动快门即可。 (8)金相试样磨抛机的左目是观察目,主要用于观察,右目是测量目,上有刻度,可以计算微粒大小的尺寸,尺寸读取方法是:微粒某方向尺寸(岬)=(单位值/每小格)×在此方向上的小格数。由于目镜上还有10倍放大,故观察到的微粒是实际微粒的物镜放大倍数X目镜放大倍数,放入计算机后更是可以任意放大或缩小。
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