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| 芯片微阵列图像CCD检测精密光学荧光金相试样磨抛机技术 |
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芯片微阵列图像CCD检测精密光学荧光金相试样磨抛机技术 基因芯片制备完成后，为进一步提取镶嵌在芯片中的生物遗传信息．需要采用全自动精密检测技术对芯片上的探针杂交信号进行检测、定位和成像，以便获得基因芯片微阵列杂交图谱。首先利用激光或荧光激发光源、精密光学金相试样磨抛机(如荧光金相试样磨抛机或共焦金相试样磨抛机)及专用全自动精密探测器(全自动精密倍增管或CCD相机)对基因芯片表面经过荧光标记的呈矩形阵列排列的探针杂交信号(荧光信号)进行检测，由于探针点样密度高、样点小、杂交信号微弱．故采用的全自动精密传感器应具有高空间分辨率、高灵敏度、低噪声和很好的线性响应。然后采用X一、7二维扫描平台对芯片表面进行连续扫描和杂交信号检测．得到呈阵列排布的探针杂交信号分布图。为获取基因芯片微阵列图像．需要采用杂交信号前置放大、模／数转换、视频一 Y 二维扫描平台对芯片表面进行连续扫描和杂交信号检测．得到呈阵列排布的探针杂交信号分布图。为获取基因芯片微阵列图像．需要采用杂交信号前置放大、模／数转换、视频编码、数／模转换、视频放大输出等电路进行处理。对于基因芯片微阵列图像CCD检测、扫描、采集系统，由于采用荧光金相试样磨抛机进行芯片成像且成像视场小，因此一次成像不能获取芯片图像全貌。为通过多次成像来获得芯片清晰的高分辨率全图．还有必要对荧光金相试样磨抛机进行自动调焦控制，以及对获取的芯片局部扫描图像再次进行图像拼接。至此．完成了基因芯片杂交信号检测和图像扫描采集过程。
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